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PATRON 電解式膜厚測定儀 介紹

更新時間:2025-10-17      瀏覽次數:83

一、工作原理:庫侖法

電解式膜厚測定儀的工作原理基于庫侖法,這是一種電化學溶解方法。其過程可以概括為:

  1. 建立電解池:將儀器配備的專用測量頭(內含陽極)緊密壓在待測涂層表面。測量頭底部有一個橡膠圈,內部充滿特定的電解液。這樣,測量頭(陽極)、涂層、金屬基材(陰極)和電解液就構成了一個微型的電解池。

  2. 恒定電流電解:儀器施加一個恒定不變的電流。

  3. 局部溶解涂層:電流會促使電解液在測量頭覆蓋的微小區域內,從涂層表面開始向基材方向溶解涂層。由于電流恒定,溶解速率是均勻的。

  4. 檢測終點:當涂層被完的全溶解,露出下方的金屬基材時,電解池的電壓會發生一個突躍式的變化。這個電壓的突變點被儀器精確地檢測到,并判定為溶解過程的終點。

  5. 計算厚度:儀器根據法拉第電解定律,通過恒定電流值(I)和從開始電解到電壓突躍所經歷的時間(t),自動計算出被溶解涂層的質量,再結合涂層的密度(ρ)和測量面積(S),即可精確得出涂層的厚度(δ)。

公式簡化理解:厚度 ∝ 電流 × 時間


二、核心特點

PATRON 電解式膜厚測定儀之所以被廣泛認可,源于其以下突出特點:

  1. 高精度與高分辨率

    • 特別適用于極薄涂層的測量,通常測量范圍在0~40μm,對于1μm以下的涂層也能實現納米級的分辨率,精度極的高。

  2. 破壞性極小

    • 雖然該方法會溶解掉一個微小的點(直徑通常為1~3mm),但對產品的外觀和整體性能幾乎沒有任何影響,因此被視為“微創"或“準無損"檢測。測試點通常肉眼難辨。

  3. 直接測量,結果可靠

    • 與磁性法或渦流法等間接測量法不同,庫侖法是直接通過溶解涂層來測量,結果不受基材材質、磁性、曲率等因素的影響,非常可靠。

  4. 操作相對簡便

    • 現代PATRON儀器通常配備直觀的液晶顯示屏和菜單導航,用戶只需選擇正確的測量程序(預置了不同涂層/基材組合的參數),即可開始測量。

  5. 預置多種應用

    • 儀器內部預存了大量常見涂層/基材組合的測量程序(如鋼上的鉻、銅上的鎳、鋁上的陽極氧化膜等),用戶無需手動輸入密度等參數,大大簡化了操作。

  6. 數據記錄與輸出

    • 高的端型號具備數據存儲、統計計算(平均值、標準偏差等)功能,并可通過USB或藍牙將數據傳輸到電腦或打印機,方便質量控制和報告生成。


三、主要型號簡介

PATRON的產品線在不斷更新,但一些經典和主流型號包括:

  • PATRON COATING-TESTER Σ / ΣF:這是非常經典的系列,功能全面,可靠性高,廣泛應用于電鍍和表面處理行業。

  • PATRON COATING-TESTER EMC-系列:更現代的型號,可能具備更大的屏幕、更快的處理速度和更便捷的數據管理功能。

  • 便攜式型號:部分型號設計為便攜式,配備內置電池,方便在生產線或倉庫現場進行檢測。


四、主要應用領域

PATRON電解式膜厚測定儀是以下行業的理想質量控制工具:

  • 電鍍行業:測量螺絲、螺母、汽車零部件、衛浴五金等產品上鍍鋅、鍍鎳、鍍鉻、鍍銅等多層鍍層的單層厚度。

  • 鋁型材與鋁制品:測量鋁材表面陽極氧化膜的厚度。

  • 涂料與噴涂:測量金屬基材上的薄層油漆、清漆的厚度。

  • 電子元器件:測量引線框架、連接器等表面的薄層貴金屬鍍層(如金、銀)。

  • 研究與開發:在實驗室中用于新涂層工藝的開發與驗證。


五、基本操作流程

  1. 準備工作:清潔待測樣品表面,確保無油污、灰塵。選擇合適的測量頭和電解液。

  2. 儀器校準:使用已知厚度的標準片對儀器進行校準,以確保測量準確性(日常使用中需定期進行)。

  3. 選擇程序:在儀器菜單中選擇與待測樣品匹配的涂層/基材組合程序。

  4. 進行測量:將測量頭垂直、平穩地壓在樣品表面,按下開始鍵。儀器會自動完成電解、終點判斷和厚度計算過程,并在屏幕上顯示結果。

  5. 讀取與記錄:讀取測量值,并可選擇保存或打印數據。移動測量頭至下一個測量點,重復操作。


六、優缺點總結

優點:

  • 對薄層測量精度無的與的倫的比。

  • 測量結果可靠,不受基材物理性質影響。

  • 微創檢測,不影響產品商品性。

  • 適用于多種金屬基材上的非導電涂層。

缺點:

  • 是破壞性檢測:會在涂層上留下一個微小的溶解點。

  • 測量速度較慢:每個點需要幾秒到幾十秒的時間,不如磁性/渦流法快。

  • 消耗品:需要定期更換電解液和磨損的測量頭。

  • 不適用于厚涂層:通常上限在40μm左右。

結論

PATRON電解式膜厚測定儀是表面處理行業中進行精密涂層厚度控制的黃金標準工具之一。它憑借其基于庫侖法的高精度和可靠性,在需要對微米級乃至亞微米級涂層進行嚴格質量監控的領域,扮演著不可替代的角色。雖然它是一種微創檢測方法,但其帶來的精確數據價值,遠遠超過了那個微不足道的測試點。


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